[부산테크노파크]2009년 1월 반도체 검사용 Probt Tib 설계 및 제작과정 교육 개최
1.목 적
	○ MEMS 공정 기초교육을 통하여 기본적인 반도체 검사용 Probe Tip 이론 및 실습MEMES 단위 공정의 전반적인 이해 ○ 3일간의 단기 이론교육을 통하여 관련분야 현장전문인력 참여기회 확대
2.개 요
	○ 교육명 : 반도체 검사용 Probr Tip 설계 및 제작과정 교육 ○ 일 시 : '09. 1. 14(수) ~ 1.16(금), 총 3일 ○ 장 소 : (재)부산테크노파크 MEMS/NANO부품생산센터(부산대학교 내) ○ 주 최 : (재)부산테크노파크 MEMS/NANO부품생산센터 ○ 주 관 : 지식경제부, 한국산업기술재단, (재)부산테크노파크 ○ 주 관 : 지식경제부, 한국산업기술재단, (재)부산테크노파크 ○ 인 원 : 30명(선착순) ○ 교육비 : 무료
3. 신청서 접수 및 문의
	○ 신청기한 : '08. 12. 15(월) ~ ‘09. 01.12(월)까지 ○ 신청방법 : 홈페이지 다운로드(www.memsnano.org) ⇒FAX , E-mail 접수 ○ 담 당 자 : (재)부산테크노파크 MEMS/NANO부품생산센터 이성빈 연구원 ○ 문의 및 접수 : TEL) 051-514-3905, FAX) 051-516-3910, E-mail)bin702@memsnano.org
	※ 교육일정에 관한 자세한 사항은 첨부파일을 참조하여 주시기 바랍니다.